
設(shè)備介紹:
本產(chǎn)品是專為高速存儲(chǔ)芯片設(shè)計(jì)的高可靠性、量產(chǎn)型老化測試解決方案。
通過在設(shè)備內(nèi)部模擬高溫、高電壓等工作環(huán)境,加速芯片老化過程,可提前暴露潛在缺陷,有效篩選早期失效產(chǎn)品,從而確保芯片在長期使用中的穩(wěn)定性和耐久性。
該系列作為款能夠滿足存儲(chǔ)芯片老化測試需求的量產(chǎn)機(jī)型,為芯片可靠性驗(yàn)證提供了高效、可靠的國產(chǎn)化選擇。
技術(shù)規(guī)格與核心性能:
技術(shù)規(guī)格 | 核心構(gòu)型 | 單腔24 slots;雙腔48 slots |
層間距設(shè)計(jì) | 45mm | |
自動(dòng)化選項(xiàng) | 測試板自動(dòng)插拔機(jī)構(gòu); 自動(dòng)開關(guān)門機(jī)構(gòu)(可選) | |
性能指標(biāo) | 溫度范圍(℃) | -10℃~150℃;--40℃~150℃;-70℃~150℃(可選) |
溫度均勻度(℃) | 空載±1℃;滿載±3℃ | |
帶載能力(kw) | 6.5kw |
核心優(yōu)勢與品質(zhì)承諾
1. 量產(chǎn)化設(shè)計(jì):針對(duì)大規(guī)模生產(chǎn)環(huán)境優(yōu)化,滿足高吞吐量測試需求。
2. 高兼容性:兼容國內(nèi)外主流BIB板卡,適配國內(nèi)外主流廠家系統(tǒng)板卡,集成便捷。
3. 智能控制:搭載DHT自研分量智控技術(shù)算法,實(shí)現(xiàn)測試過程的精準(zhǔn)與穩(wěn)定控制。
4. 靈活配置:提供兩個(gè)容量、兩個(gè)溫位、高速存儲(chǔ)等存儲(chǔ)芯片老化設(shè)備。
5. 品質(zhì):低功耗設(shè)計(jì),高可靠性,低故障率,長壽命運(yùn)行。
6. 服務(wù)保障:提供五年保修及專業(yè)的技術(shù)支持服務(wù)。
典型應(yīng)用:
1. 適用芯片:DDR3/DDR4/DDR5, LPDDR4/LPDDR5, eMMC, UFS, NAND Flash等存儲(chǔ)芯片。
2. 應(yīng)用領(lǐng)域:GPU、存儲(chǔ)芯片制造商、封測廠商、電子設(shè)備供應(yīng)商;汽車電子、人工智能、云計(jì)算、物聯(lián)網(wǎng)等關(guān)鍵行業(yè)。





















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